德普福全新系列探針校準片上市！
發布時間：
2023-08-07 12:06
來源：
探針校準片是一種用于射頻和微波測試中的校準工具。它通常是一個小尺寸的片狀結構，上面有一系列的校準結構和參考標記。探針校準片被用于校準測量系統中的探針，以確保測量結果的準確性和可靠性。
探針校準片通常由導電材料制成，如金屬化玻璃、金屬化陶瓷等。它們具有精確的尺寸和電氣特性，包括電容、電感、阻抗等。這些特性被設計成已知值，可以作為標準來校準探針和測量系統。
在使用探針校準片進行校準時，探針會接觸到校準片上的特定結構或標記，通過測量探針接觸到的結構或標記的電氣特性，可以確定探針的校準狀態。根據測量結果，可以調整探針或測量系統的參數，使其達到準確的測量。
探針校準片廣泛應用于射頻和微波領域的測試和測量中，包括高頻電路的設計、射頻器件的測試、天線測量等。它們是確保準確和可靠測量的重要工具，能夠提高測試結果的精度和一致性。
上一頁
下一頁
上一頁
下一頁